企業活動

基本情報技術者試験|ロットから一部の製品を標本として抜き取って検査し、その結果でロット全体の合格・不合格を判定する抜取検査に関する

ストラテジ系企業活動難易度:normal

出典:ukamiru オリジナル演習問題(公式過去問ではありません) / 2025年。解説:ukamiru(公式解説ではありません)。

ロットから一部の製品を標本として抜き取って検査し、その結果でロット全体の合格・不合格を判定する抜取検査に関する記述として、適切なものはどれか。
アロット内の全製品を1個ずつ検査するため不良品の流出が理論上ゼロになる方式であり見逃しは生じない。
イ抜取数を増やしても合格と判定する確率は変化せず検査の厳しさは一定である。
ウ破壊検査が必要な製品には適さず、必ず全数検査を採用しなければならない。
エロットの不良率と合格確率の関係はOC曲線で表され、良いロットほど合格しやすい。
正解
エ.ロットの不良率と合格確率の関係はOC曲線で表され、良いロットほど合格しやすい。

OC曲線(検査特性曲線)は、横軸にロットの不良率、縦軸にそのロットが合格する確率をとった曲線で、不良率が低いほど合格確率が高く、不良率が上がると合格確率が下がる右下がりの形になる。題幹の『良いロットほど合格しやすい』はOC曲線の性質に一致する。

?選択肢ごとの解説

ア ×全数検査の説明であり、一部を抜き取る抜取検査とは前提が異なる。抜取検査は見逃しの可能性を許容する方式である。
イ ×抜取数(サンプルサイズ)を増やすとOC曲線が立ち、判定がより厳しく(良否の弁別力が高く)なるため、厳しさが一定とはいえない。
ウ ×破壊検査では全数を壊せないため、むしろ抜取検査が適する。全数検査が必須という記述は逆である。
エ ○OC曲線(検査特性曲線)は、横軸にロットの不良率、縦軸にそのロットが合格する確率をとった曲線で、不良率が低いほど合格確率が高く、不良率が上がると合格確率が下がる右下がりの形になる。題幹の『良いロットほど合格しやすい』はOC曲線の性質に一致する。
この問題の「深掘り・誤答の完全解説・覚え方」は、登録すると読めます。

基本情報技術者試験は全4,036問。公開しているのはその一部で、登録すると残りも一問ごとにAI解説つきで解けます。SRS暗記カード・全真模試・弱点診断まで。

登録は1分・クレジットカード不要。無料のまま練習・暗記カード・模試まで使えます。

作成・校閲:ukamiru編集部 · 最終更新 2026-08-15 · 基本情報技術者試験 過去問 · fe-a1-0064

【基本情報技術者試験】ロットから一部の製品を標本として抜き取って検査し、その結果で…|正解「ロットの不良率と合格確率の関…」|ukamiru 過去問